VLIYaNIE OBLUChENIYa IONAMI Xe S ENERGIEY 167 MEV NA SVERKhPROVODYaShchIE SVOYSTVA VTSP-LENT VTOROGO POKOLENIYa

Мұқаба
  • Авторлар: Degtyarenko P.N.1,2, Skuratov V.A.3, Vasil'ev A.L.4,5, Ovcharov A.V.4, Petrzhik A.M.2,6, Semina V.K.3, Gavrilkin C.Y.7, Novikov M.S.3, Malyavina A.Y.8, Amelichev V.A.2, Tsvetkov A.Y.7
  • Мекемелер:
    1. Объединенный институт высоких температур Российской академии наук
    2. ООО "С-Инновации"
    3. Объединенный институт ядерных исследований
    4. Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"
    5. Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет)
    6. Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук
    7. Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук
    8. Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"
  • Шығарылым: Том 165, № 6 (2024)
  • Беттер: 827-832
  • Бөлім: Articles
  • URL: https://gynecology.orscience.ru/0044-4510/article/view/653700
  • DOI: https://doi.org/10.31857/S0044451024060099
  • ID: 653700

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Проведены систематические исследования ВТСП-лент второго поколения, облученных высокоэнергетичными ионами Xe с энергией 167 МэВ и флюенсами до 1 ・ 1012 см-2. Определено оптимальное значение флюенса (количества частиц, прошедших через 1 см2 поверхности образца) для получения максимального критического тока при различных температурах и внешних магнитных полях. Увеличение внешнего магнитного поля приводит к смещению пика критического тока в сторону больших значений флюенсов во всем диапазоне температур. Приводятся результаты микроструктурных исследований методами просвечивающей/растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифракции. Показано, что в результате облучения образуются ионные треки диаметром порядка 5–8 нм, выступающие в роли эффективных центров пиннинга. Рентгеноструктурный анализ свидетельствует о снижении остроты текстуры под воздействием облучения.

Авторлар туралы

P. Degtyarenko

Объединенный институт высоких температур Российской академии наук; ООО "С-Инновации"

Email: degtyarenkopn@gmail.com
Москва, Россия; Москва, Россия

V. Skuratov

Объединенный институт ядерных исследований

Email: skuratov@jinr.ru
Дубна, Московская обл., Россия

A. Vasil'ev

Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"; Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет)

Москва, Россия; Долгопрудный, Московская обл., Россия

A. Ovcharov

Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"

Email: ovcharov.91@gmail.com
Москва, Россия

A. Petrzhik

ООО "С-Инновации"; Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук

Email: a.petrzhik@s-innovations.ru
Москва, Россия; Москва, Россия

V. Semina

Объединенный институт ядерных исследований

Дубна, Московская обл., Россия

C. Gavrilkin

Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук

Email: gavrs@sci.lebedev.ru
Москва, Россия

M. Novikov

Объединенный институт ядерных исследований

Email: msnovikov@jinr.ru
Дубна, Московская обл., Россия

A. Malyavina

Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"

Email: ayu.malyavina@gmail.com
Москва, Россия

V. Amelichev

ООО "С-Инновации"

Москва, Россия

A. Tsvetkov

Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук

Москва, Россия

Әдебиет тізімі

  1. A. Markelov, A. Valikov, V. Chepikov, A. Petrzhik, B. Massalimov, P. Degtyarenko, R. Uzkih, A. Soldatenko, A. Molodyk, K. Sim, and S. Hwang, Prog. Supercond. Cryog. 21, 29 (2019).
  2. A. Malozemoff, Annu. Rev. Mater. Res. 42, 373 (2012).
  3. A. Abrikosov, J. Phys. Chem. Solids 2, 199 (1957).
  4. G. Blatter, M. Feigel’man, V. Geshkenbein, A. Larkin, and V. Vinokur, Rev. Mod. Phys. 66, 1125 (1994).
  5. V. Selvamanickam, G. Carota, M. Funk, N. Vo, and P. Haldar, IEEE Trans. Appl. Supercond. 11, 3379 (2001).
  6. A. Catana, R. Broom, J. Bednorz, J. Mannhart, and D. Schlom, Appl. Phys. Lett. 60 1016 (1992).
  7. J. MacManus-Driscoll, S. Foltyn, Q. Jia, H. Wang, A. Serquis, B. Maiorov, L. Civale, Y. Lin, M. Hawley, M. Maley, and D. Peterson, Appl. Phys. Lett. 84, 5329 (2004).
  8. N. Strickland, S. Wimbush, J. Kennedy, M. Ridgway, E. Talantsev, and N. Long, IEEE Trans. Appl. Supercond. 25, 1 (2015).
  9. A. Erb, E. Walker, and R. Fl¨ukiger, Physica C Supercond. 258, 9 (1996).
  10. C. Varanasi, P. Barnes, J. Burke, L. Brunke, I. Maartense, T. Haugan, E. Stinzianni, K. Dunn, and P. Haldar, Supercond. Sci. Technol. 19, 37 (2006).
  11. A. Molodyk, S. Samoilenkov, A. Markelov, P. Degtyarenko, S. Lee, V. Petrykin, M. Gaifullin, A. Mankevich, A. Vavilov, B. Sorbom, J. Cheng, S. Garberg, L. Kesler, Z. Hartwig, S. Gavrilkin, A. Tsvetkov, T. Okada, S. Awaji, D. Abraimov, A. Francis, G. Bradford, D. Larbalestier, C. Senatore, M. Bonura, A. Pantoja, S. Wimbush, N. Strickland, and A. Vasiliev, Sci Rep. 11, 2084 (2021).
  12. E. Suvorova, P. Degtyarenko, I. Karateev, A. Ovcharov, A. Vasiliev, V. Skuratov, and P. Buffat, J. Appl. Phys. 126, 145106 (2019).
  13. E. Suvorova, P. Degtyarenko, A. Ovcharov, and A. Vasiliev, J. Surf. Investig. 16, 112 (2022).
  14. C. Bean, Phys. Rev. Lett. 8, 250 (1962).
  15. D. Larbalestier, A. Gurevich, D. Feldmann, and A. Polyanskii, Nature 414, 368 (2001).

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML
Жүктеу

© Russian Academy of Sciences, 2024