О закономерностях формирования фрактальных структур на поверхности металлических пленок разной толщины

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Доступ платный или только для подписчиков

Аннотация

С помощью сканирующего туннельного микроскопа изучена морфология поверхности наноразмерных пленок меди и никеля на слюде. Определены высотные параметры и значения фрактальной размерности для пленок меди и никеля разной толщины. Указаны характерные размеры структурных агломератов для пленок меди и никеля в зависимости от толщины. Выбор толщины пленки и условий ее получения позволяют формулировать рекомендации по развитию технологии “выращивания” структур с заданной морфологией поверхности.

Об авторах

Д. В. Иванов

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования
“Тверской государственный университет”

Email: nsdobnyakov@mail.ru
Россия, Тверь

А. С. Антонов

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования
“Тверской государственный университет”

Email: nsdobnyakov@mail.ru
Россия, Тверь

Н. Б. Кузьмин

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования
“Тверской государственный университет”

Email: nsdobnyakov@mail.ru
Россия, Тверь

Н. Ю. Сдобняков

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования
“Тверской государственный университет”

Автор, ответственный за переписку.
Email: nsdobnyakov@mail.ru
Россия, Тверь

М. С. Афанасьев

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования
“МИРЭА – Российский технологический университет”; Фрязинский филиал Федерального государственного бюджетного учреждения науки
“Института радиотехники и электроники имени В.А. Котельникова Российской академии наук”

Email: nsdobnyakov@mail.ru
Россия, Москва; Россия, Фрязино

Список литературы

  1. Mwema F.M., Akinlabi E.T., Oladijo O.P. et al. // In: Modern manufacturing processes. Amsterdam: Elseviers, 2020. P. 13.
  2. Ţălu Ş., Yadav R.P., Mittal A.K. et al. // Opt. Quantum. Electron. 2017. V. 49. No. 7. P. 256.
  3. Nikpasand K., Elahi S.M., Sari A.H., Boochani A. // Mater. Sci. Poland. 2020. V. 38. No. 2. P. 328.
  4. Astinchap B. // Optik (Stuttgart). 2019. V. 178. P. 231.
  5. Martynenko Y.V., Nagel M.Y. // Nanotechnol. Russ. 2009. V. 4. No. 9. Art. No. 612.
  6. Korsukov V.E., Butenko P.N., Kadomtsev A.G. et al. // Nanosyst. Phys. Chem. Math. 2018. V. 9. No. 1. P. 58.
  7. Karbivska L., Karbivskii V., Romansky A. et al. // Proc. 39th ELNANO (Piscataway, 2019). P. 214.
  8. Марков О.И., Хрипунов Ю.В., Емельянов В.М., Жусубалиев Ж.Т. // Изв. ЮЗГУ. Сер. Техн. и технол. 2019. Т. 9. № 1(30). С. 78.
  9. Huang C., Yang C.Z. // Appl. Phys. Lett. 1999. V. 74. No. 12. P. 1692.
  10. Cheng W., Dong S., Wang E. // J. Phys. Chem. B. 2005. V. 109. No. 41. Art. No. 19213.
  11. Сдобняков Н.Ю., Антонов А.С., Иванов Д.В. Морфологические характеристики и фрактальный анализ металлических пленок на диэлектрических поверхностях: монография. Тверь: Тверской гос. ун-т, 2019. 168 с.
  12. Сдобняков Н.Ю., Антонов А.С., Иванов Д.В., Семенова Е.М. // В кн: Перспективные материалы и технологии. Минск: Изд. центр БГУ, 2021. С. 253.
  13. Иванов Д.В., Антонов А.С., Сдобняков Н.Ю. и др. // Физ.-хим. асп. изуч. класт. нанострукт. и наноматер. 2019. № 11. С. 138.
  14. Антонов А.С., Сдобняков Н.Ю., Иванов Д.В. и др. // Хим. физика и мезоскопия. 2017. Т. 19. № 3. С. 473.
  15. Иванов Д.В., Антонов А.С., Сдобняков Н.Ю. и др. // Физ.-хим. асп. изуч. класт. нанострукт. и наноматер. 2018. № 10. С. 291.
  16. Панин А.В, Шунуров А.Р. // Физ. мезомеханика. 2000. Т. 3. № 5. С. 101.
  17. Федер Е. Фракталы. М.: Мир, 1991. 254 с.
  18. Ролдугин В.И. // Усп. хим. 2003. Т. 72. № 10. С. 823.
  19. Самсонов В.М., Кузнецова Ю.В., Дьякова Е.В. // ЖТФ. 2016. Т. 86. № 2. С. 71; Samsonov V.M., Kuznetsova Y.V., D’yakova E.V. // Tech. Phys. 2016. V. 86. No. 2. P. 227.
  20. Иванов Г.С., Брылкин Ю.В. // Геометрия и графика. 2016. Т. 4. № 1. С. 4.
  21. Брылкин Ю.В., Кусов А.Л., Флоров А.В. // Изв. КБГУ. 2014. Т. 4. № 5. С. 86.
  22. Белко А.В., Никитин А.В., Стрекаль Н.Д., Герман А.Е. // Поверхность. Рентген., синхротрон., нейтрон. иссл. 2009. № 5. С. 11.
  23. Wu M.K., Friedlander S.K. // J. Colloid Interface Sci. 1993. V. 159. P. 246.
  24. Oh C., Sorensen C.M. // J. Colloid Interface Sci. 1997. V. 193. P. 17.
  25. Tirado-Miranda M., Schmitt A., Callejas-Fernandez J. et al. // Langmuir. 2000. V. 16. P. 7541.
  26. Wu M.K., Friedlander S.K. // J. Colloid Interface Sci. 1993. V. 159. P. 246.
  27. Douketis C., Wang Z., Wang Z. et al. // Prog. Surf. Sci. 1995. V. 50. No. 1–4. P. 187.
  28. Zahn W., Zösch A. // Fresenius J. Analyt. Chem. 1995. V. 365. No. 1–3. P. 168.
  29. Van Put A., Vertes A., Wegrzynek D. et al. // Fresenius J. Analyt. Chem. 1994. V. 350. No. 7–9. P. 440.
  30. Mannelquist A., Almquist N., Fredriksson S. // Appl. Phys. A. 1998. V. 66. Suppl. № 1. P. S891.
  31. Zahn. W., Zösch A. // Fresenius J. Analyt. Chem. 1997. V. 358. No. 1–2. P. 119.
  32. http://gwyddion.net.
  33. Иванов Д.В., Васильев С.А., Сдобняков Н.Ю. и др. // Физ.-хим. асп. изуч. класт. нанострукт. и наноматер. 2020. № 12. С. 424.
  34. Makabe A., Oshikawa W., Saitou M. // Trans. Japan. Soc. Mech. Engin. C. 2001. V. 67. No. 664. P. 1955.
  35. Torabi M., Dolati A. // Int. J. Surf. Sci. Engin. 2016. V. 10. No. 5. P. 444.
  36. Kolokoltsev V., Borovitskaya I., Nikulin V. et al. // Proc. 7th Int. Cong. EFRE 2020 (Tomsk, 2020). P. 971.
  37. Arman A., Ţălu Ş., Luna C. et al. // J. Mater. Sci. 2015. V. 26. P. 9630.
  38. https://www.digitalsurf.com.
  39. Кузьменко А.П., Динт Н., Кузько А.Е. и др. // Изв. вузов. Матер. электрон. техн. 2016. Т. 19. № 3. С. 195.
  40. Трусов Л.И., Холмянский В.А. Островковые металлические пленки. М.: Металлургия, 1973. 320 с.
  41. Сдобняков Н.Ю., Соколов Д.Н. Изучение термодинамических и структурных характеристик наночастиц металлов в процессах плавления и кристаллизации: теория и компьютерное моделирование: монография. Тверь: Твер. гос. ун-т, 2018. 176 с.
  42. Соколов Ю.В., Железный Ю.В. // Письма в ЖТФ. 2003. Т. 29. № 8. С. 91; Sokolov Yu.V., Zhelezny V.S. // Tech. Phys. Lett. 2003. V. 29. No. 8. P. 627.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
2.

3.

Скачать (59KB)
4.

5.

Скачать (76KB)

© Д.В. Иванов, А.С. Антонов, Н.Б. Кузьмин, Н.Ю. Сдобняков, М.С. Афанасьев, 2023